參數1.測量類別：應變2.測量對象：120Ω應變片3.測量范圍：±55000με4.通道數：8通道、16通、24通道、32通道、40通道、48通道、64通道5.每通道Z高采樣率：10kHz6.AD分辨率：24bit7.精度：±0.3%8．重量：0.8-3.5kg9.環境溫度：-40℃-70℃10.環境濕度：10%-90%11.接口：USB2.012.輸入電壓：100VAV-240VAC五、軟件介紹1.具備一鍵輸出報告功能，報告符合IPC/JEDEC-9704標準2.支持多種語言，如英文、中文3.提供diagonal strain、Max/Min principal strain、strain rate、Qstrain等數據分析

一、簡述TSK-32-16C應變測試儀是針對印刷電路板應力應變測試應用所進行設計的儀器，測試項目包括：錫球破裂、布線損毀、焊盤分離和板分離等。提供實時數據監控，避免測試過程中出現故障。二、應用TSK-32-16C應變測試毅泛應用于電子產品等領域的測試，通過應變、應變速率上的客觀分析，為蘋果、華為、、等客戶的電路板工藝優化提供了重要依據。三、特點1.設備輕巧、便攜2.可鐘和應變片相連3.允許120Ω或350Ω的1/4橋接入4.每通道采樣速率z高可達10kHz5.每通道同時使用抗混疊濾波器和模擬轉數字進行采樣6.提供高速型USB接口7.主機支持多款模塊8.符合IPC/JEDEC-9704標準的要求